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Bessere und schnellere Ergebnisse durch Deep Learning

20.02.2019

Bild: Roboter sieht sich Gehirn-Scans an, im Hintergrund ein CT-Gerät; Copyright: panthermedia.net/phonlamai

Auf der "SPIE Medical Imaging" (16.-21. Februar) präsentiert Fraunhofer MEVIS neue lernfähige Algorithmen